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常见的电容器故障有哪些,电容器故障的六种分析方法?

发表时间:2022-06-24 17:20【 阅读量:-查看手机网址
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 与所有其他电子元件部件一样,电容器在遇到非设计或制造电容器的环境或操作条件时可能会发生故障。设计人员必须清楚地了解单元中内置的安全系数、他自己添加的安全系数以及电路和环境条件对参数的众多影响。仅知道电容和额定电压是不够的。了解电容随环境变化的程度很重要;电容的内阻是多少随温度、电流、电压或频率而变化;所有这些因素对绝缘电阻、击穿电压和其他基本电容器特性的影响,这些对电路不是必不可少的,但总是伴随着必要的电容。


 1.电流过载


 瞬态浪涌是由于开关操作、相关电路或组件在足够长的持续时间和幅度下发生故障而产生的介电故障、电容的永久变化和密封失效。


 2.电压过载


 由于预热程序不充分、开关和负载突然丢失而导致的超过电容器额定值的电压瞬变可能导致内部电晕、电介质击穿以及由于电介质内的高电压梯度而降低绝缘电阻。在需要最大可靠性的情况下,最高d-c电平加上要施加的峰值a-c幅度电压之和不得超过电容器的工作电压额定值。为安全起见,除电解电容器外,所有类型电容器的额定工作电压应至少比这些电压的预期总和高20%。


 3.频率效应


 应该知道频率对电容器工作特性的影响,特别是最大额定电流与频率之间的关系。以高于其设计频率的频率运行电容器将导致运行不良和过热。当施加这些频率的脉冲时,未设计为在UHF下工作的电容器可能会击穿。


 由于某些类型电容器的固有电感,如果要确保最大旁路效应,最好将一个大电容器与一个小电容器分流,在环路或交叉配置中使用尽可能短的引线。


 4.高温


 过热是降低电容器可靠性的主要因素之一。无论是由于上述条件、高环境温度还是高功率因素导致的,过高的工作温度都会导致高故障率、加速电容漂移、降低介电强度、降低电晕水平、降低绝缘电阻和缩短寿命。表面温度每升高10-C,降低一半)。极性型电容器通常具有高功率因数,因此会产生自生内部热量。高温下绝缘电阻降低会导致更大的泄漏电流,温度逐渐升高,绝缘电阻进一步降低,最终导致电容器损坏。密封,特别是软焊型,


 5.压力


 由于电容与板之间的有效距离成反比,因此非刚性电容器容器上的任何明显压力变化都可能产生电容变化。压力变化是由于卡箍紧固件不良、高度快速变化还是其他因素造成的,这无关紧要;最终结果是一样的。快速的气压变化可能是密封失效的原因,从而导致电容器元件暴露在环境条件下。高夹紧压力也可能导致外壳变形和最终的密封失效。


 6.湿度


 除了引起外部腐蚀和真菌生长外,水分还会降低介电强度和介电常数,降低绝缘电阻,并导致高于正常的漏电流;最终结果是降低了电压击穿和更高的内部温度。几种常用的电容器材料(纸、蜡和其他浸渍剂)是真菌营养素。为了在潮湿条件下获得最大可靠性,使用密封电容器绝对是有利的。


 7.危险事项


 高压充电电容器的危害问题是一个严重的问题。在处理电容器之前或在对具有充电电容器的电路或设备进行任何工作之前,电容器应始终完全放电。用螺丝刀短接电容器的做法不仅从操作者的角度来看是危险的,而且由于高放电电流很可能会损坏电容器。此外,很可能发生介电击穿。


 电容器充放电需要时间,为了安全起见,放电应缓慢进行。在电荷上抵抗极化的电介质也在放电过程中抵抗去极化。单次使用螺丝刀或其他短路方式不足以完全释放此类单元中存储的能量。安全实践表明使用高功率低电阻短路棒,应多次使用,直到确定单元中没有能量。

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